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- 電磁干擾測(cè)試干擾源的分類方法
- 電磁干擾測(cè)試途徑
- LV123測(cè)試
- 射頻錄制回放儀精確的測(cè)量符合優(yōu)良的雜散響應(yīng)
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產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 集成電路電磁兼容測(cè)試 > 電磁干擾測(cè)試
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LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組 信號(hào)分析儀
LANGER EMV-Technik SX近場(chǎng)探頭組專門為近場(chǎng)測(cè)試設(shè)計(jì)的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產(chǎn)品開發(fā)期間探測(cè)PCB的電磁場(chǎng)情況
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電磁干擾發(fā)射探頭
電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性??梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
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電磁干擾發(fā)射探頭
電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測(cè)量結(jié)果保證了測(cè)量結(jié)果的高重復(fù)性和可比性??梢允褂肅hipScan-ESA軟件進(jìn)行測(cè)量。所有被測(cè)引腳的測(cè)量結(jié)果通過軟件保存。它允許系統(tǒng)地和快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
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電磁干擾發(fā)射探頭組
電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ,該探頭組能夠接觸到測(cè)試IC的每個(gè)引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測(cè)量重復(fù)精度和測(cè)量的可比較性。
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電磁干擾發(fā)射探頭組
電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量,該探頭套組用于測(cè)量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射(采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測(cè)量)。
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上海正衡電子科技有限公司(www.tukegroup.com.cn)主營(yíng)產(chǎn)品:PCB近場(chǎng)掃描儀,IC高頻近場(chǎng)掃描儀,射頻錄制回放儀
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